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OPTM 系列显微分光膜厚仪
• 使用显微光谱法在微小区域内通过绝.对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。
• 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了 即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件。
• 头部集成了薄膜厚度测量所需功能
• 通过显微光谱法测量高精度绝.对反射率（多层膜厚度，光学常数）
• 1点1秒高速测量
• 显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
• 区域传感器的安全机制
• 易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
• 独立测量头对应各种inline客制化需求
• 支持各种自定义
测量项目：
• 绝.对反射率测量
• 多层膜解析
• 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
更多详情咨询：
https://www.chem17.com/st469006/erlist_2217317.html
http://www.boming021.com/SonList-2217317.html