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产品介绍：法国PHASICS的波前分析仪（上海屹持光电代理），基于其波前测量——四波横向剪切干涉技术（4-WaveLateralShearingInterferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种技术将高分辨率和大动态范围很好地结合在一起。能实现全面、简便、快速的测量。  
法国PhasicsSID4系列波前分析仪主要应用领域：  
1.激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数  
2.自适应光学：焦斑优化，光束整形  
3.元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径  
4.光学系统质量分析：MTF,PSF,EFL,泽尼克系数,光学镜头/系统质量控制  
5.热成像分析，等离子体特征分析  
6.生物应用：蛋白质等组织定量相位成像  
法国PhasicsSID4系列波前分析仪产品特点：  
1.高分辨率：采样点可达120000个  
2.可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准  
3.消色差：干涉和衍射对波长相消  
4.高动态范围：高达500μm  
5.防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试  
更多详情咨询：  
http://www.eachwave17.cn/Products-37202953.html  
https://www.chem17.com/st326217/erlist_1303064.html